- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
- 介電常數(shù)
- 電阻率測(cè)試儀
- 粉末電阻率測(cè)試儀
- 導(dǎo)體、半導(dǎo)體電阻率
- 耐電弧測(cè)試儀
- 漏電起痕試驗(yàn)儀
- 電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀
- 橡膠塑料檢測(cè)儀器
- 力學(xué)性能檢測(cè)儀器
- 海綿泡沫材料檢測(cè)儀器
- 受電弓/碳滑板檢測(cè)儀器
- 材料熱物理性能實(shí)驗(yàn)設(shè)備
- 熱物性檢測(cè)儀器
-
粉末測(cè)試設(shè)備
-
霍爾流速計(jì)
-
真密度測(cè)試儀
-
斯柯特容量計(jì)
-
休止角測(cè)定儀
-
粉末壓實(shí)密度儀
-
振實(shí)密度測(cè)試儀
-
顆粒圖像分析儀
-
全自動(dòng)真密度儀
-
塑料流動(dòng)性測(cè)定儀
-
粉塵安息角測(cè)試儀
-
多功能壓力測(cè)量系統(tǒng)
-
粉末自然堆積密度儀
-
粉體綜合物性測(cè)試儀
-
氧化鋁流動(dòng)角測(cè)定儀
-
塑料表觀密度測(cè)試儀
-
普通磨料堆積密度儀
-
白土堆積密度測(cè)定儀
-
氧化鋁流動(dòng)時(shí)間測(cè)定儀
-
壓實(shí)密度粉末電阻率儀
-
陶粒砂體積密度測(cè)定儀
-
氧化鋁松裝密度測(cè)定儀
-
表面活性劑表觀密度儀
-
自由流動(dòng)堆積密度測(cè)定儀
-
超硬材料堆積密度測(cè)定儀
-
霍爾流速計(jì)
- 比表面測(cè)試儀
- 電池檢測(cè)
- 燃燒性能試驗(yàn)機(jī)
-
焙燒爐試驗(yàn)機(jī)
影響B(tài)ET比表面積測(cè)試結(jié)果的主要因素有哪些？
影響B(tài)ET比表面積測(cè)試結(jié)果的主要因素有哪些？
日期：2025-07-27 23:00
瀏覽次數(shù)：855
摘要： **，和樣品預(yù)處理時(shí)間有關(guān)。以氫氧化鎳為例，它的處理時(shí)間至少需要8h，由于其干燥過(guò)程容易板結(jié)，故處理溫度不宜過(guò)高（一般90°C），由于處理溫度不夠高，需用加長(zhǎng)時(shí)間來(lái)彌補(bǔ)。
**，和樣品的處理溫度有關(guān)。以氧化鋁為例，它的處理溫度一般是300°C。若降低其處理溫度，容易造成測(cè)量結(jié)果偏低，且BET測(cè)量曲線的線性很差。
第三，和處理時(shí)的真空度有關(guān)。真空度偏低，使真空室的飽和蒸汽壓偏高，樣品表面處理不干凈，這樣都造成測(cè)量結(jié)果偏低（個(gè)別樣品除外）。
第四，和稱樣量多少有關(guān)。樣品量的多少和其自身的比表...
**，和樣品預(yù)處理時(shí)間有關(guān)。以氫氧化鎳為例，它的處理時(shí)間至少需要8h，由于其干燥過(guò)程容易板結(jié)，故處理溫度不宜過(guò)高（一般90°C），由于處理溫度不夠高，需用加長(zhǎng)時(shí)間來(lái)彌補(bǔ)。
**，和樣品的處理溫度有關(guān)。以氧化鋁為例，它的處理溫度一般是300°C。若降低其處理溫度，容易造成測(cè)量結(jié)果偏低，且BET測(cè)量曲線的線性很差。
第三，和處理時(shí)的真空度有關(guān)。真空度偏低，使真空室的飽和蒸汽壓偏高，樣品表面處理不干凈，這樣都造成測(cè)量結(jié)果偏低（個(gè)別樣品除外）。
第四，和稱樣量多少有關(guān)。樣品量的多少和其自身的比表面的大小有關(guān)的，一般比表面越大，稱樣量越少。但是在樣品管體積一定的情況下，量太多容易造成管路堵塞，太少容易出現(xiàn)脫附峰拖尾。所以選擇合適的稱樣量是很有必要的。
第五，和測(cè)試樣品的自身吸附特性有關(guān)。大部分樣品處理后的比表面都大于處理前的比表面，但有的樣品未處理時(shí)比表面很大，處理后反而變小。
第六，和儀器的類型有關(guān)，一般來(lái)說(shuō)，靜態(tài)容量法測(cè)得結(jié)果比流動(dòng)色譜法測(cè)得的結(jié)果更加準(zhǔn)確，這是由于前者測(cè)量的是吸附數(shù)據(jù)，后者測(cè)量的是脫附數(shù)據(jù)。若樣品中存在不規(guī)則的孔，氮分子進(jìn)入孔內(nèi)后，脫附時(shí)，由于出口很小，就有可能不出來(lái)。造成脫附的數(shù)據(jù)失真。此外，由于熱擴(kuò)散的影響，也增加流動(dòng)色譜法測(cè)量誤差。
**，和樣品的處理溫度有關(guān)。以氧化鋁為例，它的處理溫度一般是300°C。若降低其處理溫度，容易造成測(cè)量結(jié)果偏低，且BET測(cè)量曲線的線性很差。
第三，和處理時(shí)的真空度有關(guān)。真空度偏低，使真空室的飽和蒸汽壓偏高，樣品表面處理不干凈，這樣都造成測(cè)量結(jié)果偏低（個(gè)別樣品除外）。
第四，和稱樣量多少有關(guān)。樣品量的多少和其自身的比表面的大小有關(guān)的，一般比表面越大，稱樣量越少。但是在樣品管體積一定的情況下，量太多容易造成管路堵塞，太少容易出現(xiàn)脫附峰拖尾。所以選擇合適的稱樣量是很有必要的。
第五，和測(cè)試樣品的自身吸附特性有關(guān)。大部分樣品處理后的比表面都大于處理前的比表面，但有的樣品未處理時(shí)比表面很大，處理后反而變小。
第六，和儀器的類型有關(guān)，一般來(lái)說(shuō)，靜態(tài)容量法測(cè)得結(jié)果比流動(dòng)色譜法測(cè)得的結(jié)果更加準(zhǔn)確，這是由于前者測(cè)量的是吸附數(shù)據(jù)，后者測(cè)量的是脫附數(shù)據(jù)。若樣品中存在不規(guī)則的孔，氮分子進(jìn)入孔內(nèi)后，脫附時(shí)，由于出口很小，就有可能不出來(lái)。造成脫附的數(shù)據(jù)失真。此外，由于熱擴(kuò)散的影響，也增加流動(dòng)色譜法測(cè)量誤差。